ANALYSE XRF POUR LES BIJOUTIERS ET ANALYSES DE GEMMES | FR

L'analyse XRF est une technique non destructive qui tire parti de l'interaction entre les rayons X primaires et la matière. Le rayon X est également appelé rayonnement de Röntgen, d'après le scientifique allemand Wilhelm Conrad Röntgen, qui l'a découvert le 8 novembre 1895. Le nom X lui a été donné car au moment de sa découverte, car on ne savait encore rien de ce phénomène physique.

Toute matière est composée d'atomes, au milieu de chaque atome se trouve un noyau chargé positivement en raison de la présence de protons et de neutrons (pas de charge). Les électrons chargés négativement tournent autour du noyau dans des quanta, comme des coquilles dans un oignon.
 
La charge négative compense la charge positive du noyau, rendant l'atome neutre. Cela peut être modifié en introduisant de l'énergie externe, comme les rayons X. Les rayons X sont des ondes lumineuses avec des longueurs d'onde très courtes, avec une énergie très élevée, qui sont absorbées lorsqu'elles traversent un matériau, en fonction de la composition et de la densité de ce matériau.
 
Lorsqu'un atome est frappé par un rayon X d'énergie suffisante (qui dépasse l'énergie de liaison de l'atome), un électron dans ses coquilles orbitales internes est éjecté, créant des lacunes ou des vides. Un électron d'une orbite atomique supérieure tombera jusqu'à cette lacune dans cet état d'énergie inférieure. Cela développe une émission d'énergie sous forme de fluorescence ou de rayons X secondaires, qui est égale à la différence spécifique d'énergie entre les deux états quantiques de l'électron. Les rayons X secondaires sont caractéristiques des éléments individuels du tableau périodique. Lorsqu'un échantillon est analysé avec un XRF, chaque élément présent émet ces signaux de rayons X uniques sous la forme d'un spectre. Également appelé empreinte élémentaire, ce spectre est au cœur des performances de l'EDXRF (Energy Dispersive XRF) et du WDXRF (Wavelength dispersive XRF).
 
Dans l'analyse EDXRF, les rayons X caractéristiques des différents éléments présents dans une mesure sont séparés en un spectre d'énergie de fluorescence complet en utilisant une excitation directe ou une excitation indirecte. La technologie EDXRF est conçue pour traiter simultanément des groupes entiers d'éléments pour une analyse qualitative ou quantitative et peut être utilisée dans des formats portables (géologues en prospection) ou de laboratoire.
 
EDXRF en soi est la solution dans différentes disciplines aussi variées que la production de métaux et d'alliages, la pétrochimie, la médecine légale, la minéralogie, l'analyse alimentaire, l'analyse environnementale et bien plus encore.

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